
Dottorato in Ingegneria Elettrica, Elettronica E Delle Comunicazioni , 33o ciclo (2017-2020)
Dottorato concluso nel 2021
Tesi:
Enhanced Electrical and Reliability Testing of Power Semiconductor Devices (Abstract)
Tutori:
Candido Pirri Sergio FerreroProfilo
Argomento di ricerca
Test Elettrici ed affidabilistici avanzati per Dispositivi di Potenza a Semiconduttore
Interessi di ricerca
Biografia
del Politecnico di Torino, la sua ricerca è stata portata avanti con il finanziamento e la collaborazione di Vishay Intertechnology Inc.
Ha conseguito la laurea triennale in "Ingegneria Elettronica" presso l'Università degli Studi di Pisa, seguita da una laurea magistrale presso il Politecnico di Torino
nella classe di "Nanotecnologie per le ICTs", per la quale ha ottenuto una borsa di studio di 6 mesi "Tesi all'Estero" presso il CEA (Grenoble, Francia), istituzione scientifica riconosciuta a livello internazionale
per lavorare alla sua tesi dal titolo "Meccanismi di Programmazione di Dispositivi di Memoria a Cambiamento di Fase comprendenti Materiali Multifase"
Dopo aver completato gli studi specialistici, lo studente ha vinto una borsa di ricerca per la quale ha svolto attività di ricerca in collaborazione con Vishay Intertechnology Inc., Italia.
La sua conoscenza include la caratterizzazione, modellazione, simulazione e progettazione di dispositivi elettronici a semiconduttore,
oltre a una vasta esperienza nell'analisi avanzata dei failure mode in test elettrici e di affidabilità avanzati.
In questi anni lo studente è stato coinvolto in diverse attività, con l'obiettivo di studiare il failure mode
il tempo di vita e le performance di affidabilità di dispositivi di potenza a semiconduttore,
progettando ed eseguendo test di affidabilità avanzati, oltre i livelli previsti dagli standard correnti in ambito industriale e automotive.
Durante la sua attività, lo studente ha inoltre acquisito una profonda conoscenza del flusso di lavoro e della gestione dei progetti in contesti industriali di tipo internazionale,
oltre ad avanzate competenze di elaborazione, analisi e interpretazione di dati scientifici e capacità di teamwork, in un ambiente multi-team e di laboratori altamente trasversale.
Pubblicazioni
Pubblicazioni durante il dottorato Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Cimmino, Davide (2021)
Enhanced Electrical and Reliability Testing of Power Semiconductor Devices. relatore: PIRRI, Candido; FERRERO, SERGIO; , 33. XXXIII Ciclo, P.: 150
Doctoral Thesis - Busca, Roberta; Cimmino, Davide; Ferrero, Sergio; Scaltrito, Luciano; Pirri, Candido; ... (2020)
Multilayer film passivation for enhanced reliability of power semiconductor devices. In: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY. B, NANOTECHNOLOGY & MICROELECTRONICS, vol. 38. ISSN 2166-2746
Contributo su Rivista - Cimmino, Davide; Ferrero, Sergio (2020)
High-Voltage Temperature Humidity Bias Test (HV-THB): Overview of Current Test Methodologies and Reliability Performances. In: ELECTRONICS, vol. 9. ISSN 2079-9292
Contributo su Rivista - Cimmino, Davide; Busca, Roberta; Ferrero, Sergio; Pirri, Candido; Giovanni, Richieri; ... (2019)
High Voltage Temperature Humidity Bias Test (THB) customized system and methodologies for reliability assessment of power semiconductor devices. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 100-101, pp. 1-5. ISSN 0026-2714
Contributo su Rivista