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Seminari e Convegni
Deep test using reverse engineering to address security issues in processors
Mercoledì 29 gennaio 2026 alle ore 10:00 si svolgerà il seminario intitolato Deep test using reverse engineering to address security issues in processors, tenuto dal professor Ying Zhang.
Abstract
Il governo cinese è profondamente preoccupato per i rischi alla sicurezza associati ai chip e ha finanziato diversi progetti correlati. Pertanto, si stanno conducendo ricerche approfondite utilizzando il reverse engineering per affrontare i problemi di sicurezza nei processori. In primo luogo, è stata modellata una classe di trojan con istruzioni super-privilegiate caratterizzate da una probabilità di attivazione estremamente bassa e dalla capacità di eludere il rilevamento con i metodi esistenti. Successivamente, si analizza come tali istruzioni illegali possano rubare informazioni protette da algoritmi crittografici classici, rivelando la loro capacità di attaccare Ethereum, rubare criptovalute e riciclare fondi illeciti. Successivamente, è stato sviluppato un algoritmo di reverse engineering basato sul deep learning per estrarre le netlist dei chip per il deep testing. Infine, è stato progettato un approccio ottimizzato di verifica del modello illimitato per rilevare funzionalità anomale a profondità temporali arbitrarie. Attraverso questo progetto, si mira a impedire che processori con vulnerabilità di sicurezza entrino in istituzioni critiche come organizzazioni governative e militari.
Relatore: Ying Zhang - Tonji University (Cina)
Biografia
Ying Zhang, Professore Associato, ha conseguito il dottorato di ricerca presso l'Istituto di Tecnologia Informatica dell'Accademia Cinese delle Scienze nel 2011. Ha sempre svolto attività di ricerca nel campo dei test sui circuiti integrati, della tolleranza ai guasti e della sicurezza, ricoprendo il ruolo di ricercatore principale in diversi progetti finanziati dalla Fondazione Nazionale delle Scienze Naturali della Cina. Ha pubblicato oltre settanta articoli accademici, di cui più di dieci come primo autore su IEEE Trans. on CAD, ACM Trans. on DAES, IEEE Trans. on VLSI e così via. È titolare di dieci brevetti di invenzione autorizzati a livello nazionale. Inoltre, è guest editor della rivista SCI INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL e presidente del programma ITC-Asia. È stato a lungo membro dei comitati tecnici di numerose conferenze, tra cui ASPDAC, ETS e ATS, ed è membro del comitato professionale per la tolleranza ai guasti della CCF, del comitato per i circuiti integrati della CCF e della Società cinese di metrologia e collaudo.
Il seminario è aperto a tutti e si svolgerà in presenza.
Per ulteriori informazioni contattare il professore Matteo Sonza Reorda.
Abstract
Il governo cinese è profondamente preoccupato per i rischi alla sicurezza associati ai chip e ha finanziato diversi progetti correlati. Pertanto, si stanno conducendo ricerche approfondite utilizzando il reverse engineering per affrontare i problemi di sicurezza nei processori. In primo luogo, è stata modellata una classe di trojan con istruzioni super-privilegiate caratterizzate da una probabilità di attivazione estremamente bassa e dalla capacità di eludere il rilevamento con i metodi esistenti. Successivamente, si analizza come tali istruzioni illegali possano rubare informazioni protette da algoritmi crittografici classici, rivelando la loro capacità di attaccare Ethereum, rubare criptovalute e riciclare fondi illeciti. Successivamente, è stato sviluppato un algoritmo di reverse engineering basato sul deep learning per estrarre le netlist dei chip per il deep testing. Infine, è stato progettato un approccio ottimizzato di verifica del modello illimitato per rilevare funzionalità anomale a profondità temporali arbitrarie. Attraverso questo progetto, si mira a impedire che processori con vulnerabilità di sicurezza entrino in istituzioni critiche come organizzazioni governative e militari.
Relatore: Ying Zhang - Tonji University (Cina)
Biografia
Ying Zhang, Professore Associato, ha conseguito il dottorato di ricerca presso l'Istituto di Tecnologia Informatica dell'Accademia Cinese delle Scienze nel 2011. Ha sempre svolto attività di ricerca nel campo dei test sui circuiti integrati, della tolleranza ai guasti e della sicurezza, ricoprendo il ruolo di ricercatore principale in diversi progetti finanziati dalla Fondazione Nazionale delle Scienze Naturali della Cina. Ha pubblicato oltre settanta articoli accademici, di cui più di dieci come primo autore su IEEE Trans. on CAD, ACM Trans. on DAES, IEEE Trans. on VLSI e così via. È titolare di dieci brevetti di invenzione autorizzati a livello nazionale. Inoltre, è guest editor della rivista SCI INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL e presidente del programma ITC-Asia. È stato a lungo membro dei comitati tecnici di numerose conferenze, tra cui ASPDAC, ETS e ATS, ed è membro del comitato professionale per la tolleranza ai guasti della CCF, del comitato per i circuiti integrati della CCF e della Società cinese di metrologia e collaudo.
Il seminario è aperto a tutti e si svolgerà in presenza.
Per ulteriori informazioni contattare il professore Matteo Sonza Reorda.