Dottorato in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 18o ciclo (2003-2005)
Dottorato concluso nel 2006
Tesi:
Test Techniques for Systems-on-a-Chip.
Tutori:
Matteo Sonza ReordaProfilo
Interessi di ricerca
Settore scientifico discliplinare
(Area 0009 - Ingegneria industriale e dell'informazione)
Premi e riconoscimenti
Didattica
Collegi dei Corsi di Studio
Altre attività e progetti di didattica
Titolare dei seguenti corsi:
- Architetture dei Sistemi di Elaborazione (primo anno laurea magistrale)
- Computer Science (primo anno laurea triennale)
Ricerca
Gruppi di ricerca
Progetti di ricerca
Progetti finanziati da bandi competitivi
- ARBoard - Test di complessi circuiti stampati tramite Realtà Aumentata con estrazione automatica delle caratteristiche topologiche , (2025-2025) - Responsabile Scientifico
Ricerca da Enti privati e Fondazioni
Progetti finanziati da contratti commerciali
- Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In , (2024-2025) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Contratto di ricerca tra il Politecnico di Torino (DISAT) e la Società Dana-TM4 Italia S.r.l. per la realizzazione del Progetto di Ricerca “Analisi dello stato dell’arte di power modules, Studio e Sviluppo di una nuova generazione di power module LV, analisi di affidabilità e test di qualifica” , (2023-2025) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - TC4xx NVM Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion for reduced test costs , (2025-2025) - Componente gruppo di Ricerca
Ricerca Commerciale - Misurazione micrometrica di distanze assolute con metodi basati su triangolazione ottica , (2024-2025) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Colored NVM bitmap and repair integration with statistical evaluation in production for Aurix3G product family , (2023-2024) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In e Utilizzo di test funzionali per ridurre l’over-killing dovuto alle condizioni di , (2023-2024) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Study of solutions for internal analog signals measurement and delivery of information across the chip in digital form , (2023-2024) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Colored NVM bitmap integration and validation in Aurix3G product family and A3G NVM Read Redundancy Analysis PBIST Concurrent Power Aware BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion , (2023-2023) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Generazione automatica e algoritmica di stimoli per lo stress (burn-in) di dispositivi SoC , (2022-2023) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Colored bitmap integration in Aurix2G including demonstration in production environment and porting support to Aurix3G , (2021-2022) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Redundancy repair algorithm definition for A3G ESF3 based on Array Fail Diagnostic and Suspect Learning , (2019-2020) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Power Drop Aware NVM Concurrent BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion (U-RPC) , (2019-2020) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - New techniques for supporting the System-Level Test (SLT) phase fors automotive decives , (2019-2020) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Portable Repair DfM Approach for A2G/A3G Flash Test , (2019-2019) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation) and Versal (7nm generation) , (2019-2020) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation) , (2018-2019) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Portable Repari DfM Approach for A2G/A3G Flash Test , (2018-2019) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Everest and Alto projects , (2017-2018) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Concept and Implementation Guidelines for Test Time and Diagnosis – Optimal Usage of Hier-archical Design for Testability Hardware regarding typical Production Test Repair corner case Statistics , (2017-2017) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device , (2017-2017) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device , (2016-2017) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - Assesment and Optimization of Hierarchical CPU-based Test for MultiCore eFlash applying DfT Hardware , (2016-2019) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale - SW BIST implementation for Floating Point Unit of 40nm Automotive Microcontrollers , (2016-2016) - Responsabile Scientifico
Consulenza commerciale - Rinnovo della Convenzione Dipartimentale tra il Politecnico di Torino - Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN), il Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) e l’Université de Montpellier (UM), riguardante il laboratorio franco-italiano per la ricerca in sistemi integrati hardware-software “LIA LAFISI” , (-2020) - Responsabile Scientifico
Convenzioni Dipartimentali - Everest and Alto projects , (-2018) - Responsabile Scientifico
Ricerca Commerciale
Dottorandi
- Nicola Di Gruttola Giardino. Corso in Ingegneria Aerospaziale (ciclo 40, 2024-in corso)
Concurrent Engineering / Aerospace Systems Engineering Concurrent Engineering / Aerospace Systems Engineering - Lorenzo Cardone. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2022-in corso)
Argomento della ricerca: Parallel Techniques for Reliability Measures
Computer architectures and Computer aided design Parallel and distributed systems, Quantum computing Computer architectures and Computer aided design Parallel and distributed systems, Quantum computing - Gabriele Filipponi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2022-in corso)
Computer architectures and Computer aided design Computer architectures and Computer aided design - Tommaso Foscale. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2022-in corso)
Computer architectures and Computer aided design Computer architectures and Computer aided design - Nima Kolahimahmoudi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2023-in corso)
Computer architectures and Computer aided design Computer architectures and Computer aided design - Francesco Angione. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 37, 2021-2025)
Tesi: System-Level Test techniques for Automotive SoCs
Computer architectures and Computer aided design Controls and system engineering Software engineering and Mobile computing Computer architectures and Computer aided design Controls and system engineering Software engineering and Mobile computing - Giusy Iaria. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 37, 2022-2025)
Tesi: Towards Ultra-Reliable Automotive Systems-on-Chip
Computer architectures and Computer aided design - Giorgio Insinga. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 37, 2021-2025)
Tesi: Test and diagnosis of memories embedded in Automotive SoCs
Computer architectures and Computer aided design Computer architectures and Computer aided design
Pubblicazioni
Pubblicazioni degli ultimi anni
Pubblicazioni durante il dottorato Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2006)
Embedded Memory Diagnosis: An Industrial Workflow. In: IEEE International Test Conference ITC, Santa Clara, CA, USA, 24-26 Ottobre 2006, pp. 1-9. ISBN: 9781424402922
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SONZA REORDA, Matteo (2006)
System-in-package testing: problems and solutions. In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS, vol. Volume: 23 , Issue: 3, pp. 203-211. ISSN 0740-7475
Contributo su Rivista - D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2006)
On the automation of the test flow of complex SoCs. In: IEEE VLSI Test Symposium VTS, Berkeley, CA, USA, 30 Aprile - 4 Maggio 2006, pp. 386-391
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2006)
A new hybrid fault detection technique for systems-on-a-chip. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 55, pp. 185-198. ISSN 0018-9340
Contributo su Rivista - Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Violante, Massimo; SONZA REORDA, Matteo; ... (2006)
Software-Based On-Line Test of Communication Peripherals in Processor-Based Systems for Automotive Applications. In: ?Congresso?
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo (2006)
A pattern ordering algorithm for reducing the size of fault dictionaries. In: IEEE VLSI Test Symposium VTS, Berkeley, CA, USA, 30 Aprile - 4 Maggio 2006, pp. 166-171
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Schillaci, Massimiliano; SONZA REORDA, ... (2006)
An Evolutionary Methodology to Enhance Processor Software-Based Diagnosis. In: CEC 2006, IEEE Congress on Evolutionary Computation, Vancouver (BC), Canada, July 16-21, 2006, pp. 859-864
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Sterpone, Luca; Violante, Massimo; M., PORTELA GARCIA (2006)
HYBRID FAULT DETECTION TECHNIQUE A CASE STUDY ON VIRTEX-II PRO'S POWERPC. In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, vol. 53, pp. 3550-3557. ISSN 0018-9499
Contributo su Rivista - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo (2006)
Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm. In: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS, Prague, Czech Republic, 18-21 Aprile 2006, pp. 230-231
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Schillaci, Massimiliano; Squillero, ... (2006)
An Effective Technique for Minimizing the Cost of Processor Software-Based Diagnosis in SoCs. In: IEEE DATE 2006: Design, Automation and Test in Europe, 6-10 March 2006, pp. 412-417. ISBN: 9783981080100
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo (2005)
Exploiting an I-IP for both test and silicon debug of microprocessor cores. In: International Workshop on Microprocessor Test and Verification MTV, Austin, TX, USA, 3-4 Novembre 2005, pp. 55-62
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo (2005)
Exploiting an Infrastructure-IP to reduce memory diagnosis costs in SoCs. In: IEEE European Test Symposium, Tallinn, Estonia, 22-25 Maggio 2005, pp. 202-207
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Manzone, A; Rebaudengo, Maurizio; SANCHEZ ... (2005)
Integrating BIST techniques for on-line SoC testing. In: IEEE International On-Line Test Symposium IOLTS, Saint Raphael, France, 6-8 Luglio, 2005, pp. 235-240
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; D., ... (2005)
A Tool for Supporting and Automating the Test of Complex System-on-Chips. In: ITSW 2005: IEEE International Test Synthesis Workshop, San Antonio, Texas, USA, 11-12 aprile 2005
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2005)
A new DFM-proactive technique. In: SDD'05: 2nd IEEE International Workshop on Silicon Debug and Diagnosis, Austin, Texas, USA, 10 - 11 novembre 2005
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2005)
Pandora I-IP: an HW/SW approach to Control Flow Checking. In: 6th IEEE Latin American Test Workshop - LATW'05, Bahia Brazil, March 30 - April 2
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Masera, Guido; Quaglio, Federico; SONZA REORDA, Matteo (2005)
Testing logic cores using a BIST P1500 compliant approach: a case of study. In: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE2005), Munich, 7-11 Marzo 2005, pp. 228-233
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2005)
On-line Detection of Control-Flow Errors in SoCs by means of an Infrastructure IP core. In: IEEE Dependable Systems and Networks Symposium, pp. 50-58
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo (2005)
On the diagnosis of SoCs including multiple memory cores. In: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Sopron, Hungary, 13-16 Aprile, 2005, pp. 75-80
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, ... (2005)
An integrated approach for increasing the soft-error detection capabilities in SoCs processors. In: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, pp. 307-312
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Società e imprese
Brevetti e altre proprietà intellettuali
- Software analisi qualità schede elettroniche. Brevetto nazionale
Inventori: Paolo Bernardi Giorgio Insinga