Paolo Bernardi

• SoC Testing and Reliability

Settori ERC

SDG

• Best Paper award in DDECS 2016 conferito da DDECS organizing committee, Italia (2016)
• EDAA Outstanding Dissertation Award conferito da European Design and Automation Association - EDAA, Regno Unito (2006)
• Best Paper Award at the IEEE Conference on Design, Automation and Test in Europe conferito da DATE Program Committee, Italia (2006)

• Fellow (riconoscimento scientifico) - IEEE, Stati Uniti (2020-)
  IEEE Senior Member

• Microelectronics Reliability (2021-), Guest Editor di rivista o collana editoriale

• Test Technology Educational Program - TTEP, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• Test Technology Educational Program - TTEP, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)

• Collegio di Ingegneria Informatica, del Cinema e Meccatronica. Componente

Corso di laurea magistrale

• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso

Corso di laurea di 1° livello

• Computer sciences. A.A. 2026/27, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO. Titolare del corso
• Computer sciences. A.A. 2025/26, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer sciences. A.A. 2024/25, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer sciences. A.A. 2023/24, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2021/22, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2020/21, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso

Titolare dei seguenti corsi:

- Architetture dei Sistemi di Elaborazione (primo anno laurea magistrale)

- Computer Science (primo anno laurea triennale)

• CAD - Electronic CAD & Reliability Group (DAUIN)

Progetti finanziati da bandi competitivi

• ARBoard - Test di complessi circuiti stampati tramite Realtà Aumentata con estrazione automatica delle caratteristiche topologiche, (2025-2026) - Responsabile Scientifico
  Ricerca da Enti privati e Fondazioni

Progetti finanziati da contratti commerciali

• AURIXTM NVM Test Strategies enabling Minimal Pincount Concurrent FE Insertion for eNVM Reduced test costs and Diagnosis, (2026-2026) - Componente gruppo di Ricerca
  Ricerca Commerciale
• Implementation and Evaluation of a Stress Test Flow based on the execution of structural and/or functional patterns in a System Level and BurnIn/WLBI context on microcontrollers of the Stellar family in P28 FD-SOI technology at 28nm, (periodo sconosciuto) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• TC4xx NVM Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion for reduced test costs, (2025-2025) - Componente gruppo di Ricerca
  Ricerca Commerciale
• Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In, (2024-2025) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Misurazione micrometrica di distanze assolute con metodi basati su triangolazione ottica, (2024-2025) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Contratto di ricerca tra il Politecnico di Torino (DISAT) e la Società Dana-TM4 Italia S.r.l. per la realizzazione del Progetto di Ricerca “Analisi dello stato dell’arte di power modules, Studio e Sviluppo di una nuova generazione di power module LV, analisi di affidabilità e test di qualifica” , (2023-2025) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored NVM bitmap and repair integration with statistical evaluation in production for Aurix3G product family, (2023-2024) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In e Utilizzo di test funzionali per ridurre l’over-killing dovuto alle condizioni di, (2023-2024) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Study of solutions for internal analog signals measurement and delivery of information across the chip in digital form, (2023-2024) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored NVM bitmap integration and validation in Aurix3G product family and A3G NVM Read Redundancy Analysis PBIST Concurrent Power Aware BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion, (2023-2023) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Generazione automatica e algoritmica di stimoli per lo stress (burn-in) di dispositivi SoC, (2022-2023) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored bitmap integration in Aurix2G including demonstration in production environment and porting support to Aurix3G, (2021-2022) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Power Drop Aware NVM Concurrent BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion (U-RPC), (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Redundancy repair algorithm definition for A3G ESF3 based on Array Fail Diagnostic and Suspect Learning, (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• New techniques for supporting the System-Level Test (SLT) phase fors automotive decives, (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Portable Repair DfM Approach for A2G/A3G Flash Test, (2019-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation) and Versal (7nm generation), (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation), (2018-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Portable Repari DfM Approach for A2G/A3G Flash Test, (2018-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Everest and Alto projects, (2017-2018) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Concept and Implementation Guidelines for Test Time and Diagnosis – Optimal Usage of Hier-archical Design for Testability Hardware regarding typical Production Test Repair corner case Statistics, (2017-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device, (2017-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device, (2016-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Assesment and Optimization of Hierarchical CPU-based Test for MultiCore eFlash applying DfT Hardware, (2016-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• SW BIST implementation for Floating Point Unit of 40nm Automotive Microcontrollers, (2016-2016) - Responsabile Scientifico
  Consulenza commerciale
• Everest and Alto projects, (-2018) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Rinnovo della Convenzione Dipartimentale tra il Politecnico di Torino - Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN), il Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) e l’Université de Montpellier (UM), riguardante il laboratorio franco-italiano per la ricerca in sistemi integrati hardware-software “LIA LAFISI”, (-2020) - Responsabile Scientifico
  Convenzioni Dipartimentali

• Nicola Di Gruttola Giardino. Corso in Ingegneria Aerospaziale (40^o ciclo, 2024-in corso)
  
  Concurrent Engineering / Aerospace Systems Engineering
• Lorenzo Cardone. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2022-in corso)
  Argomento della ricerca: Parallel Techniques for Reliability Measures
  
  Computer architectures and Computer aided design
  Parallel and distributed systems, Quantum computing
• Gabriele Filipponi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2022-2026)
  Tesi: Manufacturing and In-Field Testing Techniques
  
  Computer architectures and Computer aided design
• Tommaso Foscale. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2022-in corso)
  Tesi: Testing Techniques for Automotive Systems on Chip
  
  Computer architectures and Computer aided design
• Nima Kolahimahmoudi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2023-in corso)
  
  Computer architectures and Computer aided design
• Francesco Angione. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (37^o ciclo, 2021-2025)
  Tesi: System-Level Test techniques for Automotive SoCs
  
  Computer architectures and Computer aided design
  Controls and system engineering
  Software engineering and Mobile computing
• Giusy Iaria. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (37^o ciclo, 2022-2025)
  Tesi: Towards Ultra-Reliable Automotive Systems-on-Chip
  
  Computer architectures and Computer aided design
• Giorgio Insinga. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (37^o ciclo, 2021-2025)
  Tesi: Test and diagnosis of memories embedded in Automotive SoCs
  
  Computer architectures and Computer aided design

• Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Quer, Stefano (In stampa)
  Smart Heuristics for Maximum Common Subgraph Sub-Estimation in Large Digital Circuits. In: IWLS 2025, Verona (IT), 20/05/2024 - 24/05/2024
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Insinga, Giorgio; Battilana, Matteo; Beer, Peter; Carnevale, ... (2026)
  A Versatile Strategy for Comprehensive Data Collection and Retention in Embedded SoC Memories. In: ACM TRANSACTIONS ON EMBEDDED COMPUTING SYSTEMS, vol. 25, pp. 1-15. ISSN 1539-9087
  Contributo su Rivista
• Filipponi, Gabriele; Schwachhofer, Denis; Angione, Francesco; Bertani, Claudia; ... (2026)
  Netlist-Independent Functional Stress Pattern generation strategy for AI HW Accelerators embedded into SoCs. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 75, pp. 554-566. ISSN 1557-9956
  Contributo su Rivista
• Di Gruttola Giardino, Nicola; Bernardi, Paolo; Corpino, Sabrina; Stesina, Fabrizio (2025)
  HW/SW Co-Design of a Reliable Deep Space System exploiting Application-profiled RAM Scrubbing. In: 38th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Barcelona (Spain), 21-23 October 2025. ISBN: 979-8-3315-1489-1
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Insinga, Giorgio; Anzoino, Francesco; Bella, Pietro; Bernardi, Paolo; Filippetti, Luca; ... (2025)
  ARBoard: Augmented Reality for PCB Operations in Industry 5.0. In: 2025 IEEE International Symposium on Emerging Metaverse (ISEMV), Honolulu, HI (USA), 19-20 October 2025. ISBN: 979-8-3315-4890-2
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Jenihhin, M.; Raik, J.; Jutman, A.; Cherezova, N.; Ubar, R.; Miclea, L.; Enyedi, S.; ... (2025)
  European Test Symposium Teams: an Anniversary Snapshot. In: 2025 IEEE European Test Symposium, ETS 2025, Tallinn, Estonia, 26-30 May 2025, pp. 1-48. ISBN: 979-8-3315-9450-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo (2025)
  System-Level Test techniques for Automotive SoCs. In: International Test Conference (ITC), San Diego, CA (USA), 20-26 September 2025, pp. 568-577. ISBN: 979-8-3315-7041-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Ciullo, Alessandro; Eggersglüß, Stephan; Tille, Daniel; Glowatz, Andreas; Iaria, Giusy; ... (2025)
  Exploiting weak detections for optimizing pattern generation in Defect-Oriented Cell-Aware ATPG. In: IEEE International Test Conference ASIA 2025, Tokyo (JPN), December 16–19, 2025, pp. 72-77. ISBN: 979-8-3315-7193-1
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio; Bernardi, Paolo (2025)
  Extended design and linearity analysis of a 6-bit low-area hybrid ADC design for local system-on-chip measurements. In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS, vol. 118. ISSN 0141-9331
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Sinha, Arani (2025)
  From Structural Test Escapes to Silent Data Errors: A preliminary analysis. In: 2025 IEEE 9th International Test Conference India (ITC India), Bangalore (IND), 20-22 July 2025. ISBN: 979-8-3315-0129-7
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Quer, Stefano; ... (2025)
  A Novel Indirect Methodology based on Execution Traces for Grading Functional Test Programs. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 74, pp. 3582-3595. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo (2025)
  Automatic Generation of System-Level Test for Un-Core Logic of Large Automotive SoC. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 74, pp. 3195-3209. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista
• Foscale, Tommaso; Bernardi, Paolo (2025)
  A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing. In: ELECTRONICS, vol. 14. ISSN 2079-9292
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Dattatraya Dixit, Harish; ... (2025)
  Special Session: Trustworthy Hardware-AI at the Cloud. In: IEEE VLSI Test Symposium 2025, Tempe, Arizona (USA), 28-30 April 2025. ISBN: 979-8-3315-2144-8
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Bertani, Claudia; Bertetto, Lorenzo; Cardone, ... (2025)
  Leveraging ATE to optimize System-Level-Test for Multicore Automotive SoCs. In: Latin American Test Symposium, San Andres Islas, Colombia, 11-14 March 2025, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-7763-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo (2025)
  Enhancing Logic Diagnosis of field returns through Logic BIST in Automotive SoCs. In: 2025 IEEE Latin American Test Symposium, San Andres Islas (COL), 11-14 March 2025. ISBN: 978-1-6654-7763-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo; Bertani, Claudia; Cardone, Lorenzo; Garozzo, Giuseppe; ... (2025)
  A Comprehensive Scan Test Cost Model to Optimize the Production of very large SoCs. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 74, pp. 1278-1292. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Filipponi, Gabriele; ... (2025)
  A System-Level Test Methodology for Communication Peripherals in System-on-Chips. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 74, pp. 731-739. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista
• Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo (2024)
  Logic Diagnosis Based on Logic Built-In Self-Test Signatures Collected In-Field from Failing System-on-Chips. In: ELECTRONICS, vol. 13. ISSN 2079-9292
  Contributo su Rivista
• Bernardi, Paolo; Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio (2024)
  A 6-bit Low-Area Hybrid ADC Design For System-on-Chip Measurements. In: IEEE International conference on Design, Test & Technology of Integrated Systems (DTTIS), Aix-en-Provence (FR), 14-16 October 2024. ISBN: 979-8-3503-6312-8
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso (2024)
  Exploring trade-offs in multi-site wafer testing. In: 25th IEEE Latin American Test Symposium 2024, Maceio (BRA), 09-12 April 2024. ISBN: 979-8-3503-6555-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Di Gruttola Giardino, Nicola; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Foscale, Tommaso; ... (2024)
  A Flexible FPGA-based Test Equipment for Enabling Out-of-Production Manufacturing Test Flow of Digital Systems. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), Didcot (UK), 08-10 October 2024. ISBN: 979-8-3503-6688-4
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Schwachhofer, D.; Angione, F.; Becker, S.; Wagner, S.; Sauer, M.; Bernardi, P.; Polian, ... (2024)
  Optimizing System-Level Test Program Generation via Genetic Programming. In: 2024 IEEE European Test Symposium (ETS), The Hague (NL), 20-24 May 2024. ISBN: 979-8-3503-4932-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Guerriero, Augusto Maria; Insinga, Giorgio; Paganini, Giovanni; ... (2024)
  Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs. In: ELECTRONICS, vol. 13. ISSN 2079-9292
  Contributo su Rivista
• Bernardi, Paolo; Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio (2023)
  A Novel Approach to Extract Embedded Memory Design Parameter Through Irradiation Test. In: Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC 2023), Dubai (United Arab Emirates), October 16 - 18, 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-2599-7
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Quer, Stefano; ... (2023)
  A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on large Automotive System-on-Chips. In: IEEE ACCESS, vol. 11, pp. 105655-105676. ISSN 2169-3536
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Di Gruttola Giardino, Nicola; ... (2023)
  On the integration and hardening of Software Test Libraries in Real-Time Operating Systems. In: Latin American Test Symposium, Veracruz (Mexico), 21-24 March 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-2597-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Appello, Davide; ... (2023)
  A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs. In: VLSI Test Symposium, San Diego (USA), 24-26 April 2023, pp. 1-7. ISBN: 979-8-3503-4630-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, ... (2023)
  Collecting diagnostic information through dichotomic search from Logic BIST of failing in-field automotive SoCs with delay faults. In: International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Tallinn (Estonia), 03-05 May 2023, pp. 21-26. ISBN: 979-8-3503-3277-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Huard, V.; Jacquet, F.; Mhira, S.; Jure, L.; Montfort, O.; Louvat, M.; Zaia, L.; ... (2022)
  Runtime Test Solution for Adaptive Aging Compensation and Fail Operational Safety mode. In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Dallas, TX (USA), 27-31 March 2022. ISBN: 978-1-6654-7950-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)

• Software analisi qualità schede elettroniche. Brevetto nazionale e internazionale
  Inventori: Paolo Bernardi Giorgio Insinga