Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 38o ciclo (2022-2025)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente a contratto e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Profilo
Dottorato di ricerca
Argomento di ricerca
Functional Safety Techniques for Automotive oriented Systems-on-Chip
Tutori
Presentazione della ricerca
Keywords
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea di 1° livello
- Computer sciences. A.A. 2025/26, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2024/25, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
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Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Wang, Changhao; Yuan, Sicong; Bellarmino, Nicolò; Chen, Danyang; Kolahimahmoudi, Nima; ... (2026)
A Data-Driven ANN-Based Model for FeCAP & FeFET: Orienting to SPICE and Circuit Design. In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, pp. 1-1. ISSN 0741-3106
Contributo su Rivista - Wang, Changhao; Kolahimahmoudi, Nima; Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Yuan, ... (2025)
Device-Aware Test for Threshold Voltage Shifting in FeFET. In: IEEE International Test Conference 2025, San Diego (USA), 20-26 September 2025, pp. 410-413. ISBN: 979-8-3315-7041-5
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio; Bernardi, Paolo (2025)
Extended design and linearity analysis of a 6-bit low-area hybrid ADC design for local system-on-chip measurements. In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS, vol. 118. ISSN 0141-9331
Contributo su Rivista - Bernardi, Paolo; Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio (2024)
A 6-bit Low-Area Hybrid ADC Design For System-on-Chip Measurements. In: IEEE International conference on Design, Test & Technology of Integrated Systems (DTTIS), Aix-en-Provence (FR), 14-16 October 2024. ISBN: 979-8-3503-6312-8
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio (2023)
A Novel Approach to Extract Embedded Memory Design Parameter Through Irradiation Test. In: Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC 2023), Dubai (United Arab Emirates), October 16 - 18, 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-2599-7
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)