Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In e Utilizzo di test funzionali per ridurre l’over-killing dovuto alle condizioni di
Durata:
12 mesi (2024)
Responsabile scientifico:
Tipo di contratto:
Ricerca Commerciale
Strutture coinvolte
Partner
- STMICROELECTRONICS S.R.L.