Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In e Utilizzo di test funzionali per ridurre l’over-killing dovuto alle condizioni di
Duration:
12 months (2024)
Principal investigator(s):
Contract type:
Commercial Research
Structures
Partners
- STMICROELECTRONICS S.R.L.