Paolo Bernardi

• SoC Testing and Reliability

Settori ERC

SDG

• Best Paper award in DDECS 2016 conferito da DDECS organizing committee, Italia (2016)
• EDAA Outstanding Dissertation Award conferito da European Design and Automation Association - EDAA, Regno Unito (2006)
• Best Paper Award at the IEEE Conference on Design, Automation and Test in Europe conferito da DATE Program Committee, Italia (2006)

• Fellow (riconoscimento scientifico) - IEEE, Stati Uniti (2020-)
  IEEE Senior Member

• Microelectronics Reliability (2021-), Guest Editor di rivista o collana editoriale

• Test Technology Educational Program - TTEP, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• Test Technology Educational Program - TTEP, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)

• Collegio di Ingegneria Informatica, del Cinema e Meccatronica. Componente

Dottorato di ricerca

• Automated digital testing: present and future. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Collaboratore del corso

Corso di laurea magistrale

• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer architectures. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso

Corso di laurea di 1° livello

• Computer sciences. A.A. 2024/25, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer sciences. A.A. 2023/24, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2021/22, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2020/21, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2019/20, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2018/19, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso

Titolare dei seguenti corsi:

- Architetture dei Sistemi di Elaborazione (primo anno laurea magistrale)

- Computer Science (primo anno laurea triennale)

• CAD - Electronic CAD & Reliability Group (DAUIN)

Progetti finanziati da contratti commerciali

• Misurazione micrometrica di distanze assolute con metodi basati su triangolazione ottica, (2024-2025) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Contratto di ricerca tra il Politecnico di Torino (DISAT) e la Società Dana-TM4 Italia S.r.l. per la realizzazione del Progetto di Ricerca “Analisi dello stato dell’arte di power modules, Studio e Sviluppo di una nuova generazione di power module LV,, (2023-2025) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored NVM bitmap and repair integration with statistical evaluation in production for Aurix3G product family, (2023-2024) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In e Utilizzo di test funzionali per ridurre l’over-killing dovuto alle condizioni di, (2023-2024) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Study of solutions for internal analog signals measurement and delivery of information across the chip in digital form, (2023-2024) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored NVM bitmap integration and validation in Aurix3G product family and A3G NVM Read Redundancy Analysis PBIST Concurrent Power Aware BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion, (2023-2023) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Generazione automatica e algoritmica di stimoli per lo stress (burn-in) di dispositivi SoC, (2022-2023) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored bitmap integration in Aurix2G including demonstration in production environment and porting support to Aurix3G, (2021-2022) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Power Drop Aware NVM Concurrent BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion (U-RPC), (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Redundancy repair algorithm definition for A3G ESF3 based on Array Fail Diagnostic and Suspect Learning, (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• New techniques for supporting the System-Level Test (SLT) phase fors automotive decives, (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Portable Repair DfM Approach for A2G/A3G Flash Test, (2019-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation) and Versal (7nm generation), (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation), (2018-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Portable Repari DfM Approach for A2G/A3G Flash Test, (2018-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Everest and Alto projects, (2017-2018) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Concept and Implementation Guidelines for Test Time and Diagnosis – Optimal Usage of Hier-archical Design for Testability Hardware regarding typical Production Test Repair corner case Statistics, (2017-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device, (2017-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device, (2016-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Assesment and Optimization of Hierarchical CPU-based Test for MultiCore eFlash applying DfT Hardware, (2016-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• SW BIST implementation for Floating Point Unit of 40nm Automotive Microcontrollers, (2016-2016) - Responsabile Scientifico
  Consulenza commerciale
• Rinnovo della Convenzione Dipartimentale tra il Politecnico di Torino - Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN), il Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) e l’Université de Montpellier (UM), riguardante il laboratorio franco-it, (-2020) - Responsabile Scientifico
  Convenzioni Dipartimentali
• Everest and Alto projects, (-2018) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale

• Lorenzo Cardone. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2022-in corso)
• Gabriele Filipponi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2022-in corso)
• Tommaso Foscale. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2022-in corso)
• Nima Kolahimahmoudi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (38^o ciclo, 2023-in corso)
• Francesco Angione. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (37^o ciclo, 2021-in corso)
• Giusy Iaria. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (37^o ciclo, 2022-in corso)
• Giorgio Insinga. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (37^o ciclo, 2021-in corso)

• DI GRUTTOLA GIARDINO, Nicola; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Foscale, Tommaso; ... (In stampa)
  A Flexible FPGA-based Test Equipment for Enabling Out-of-Production Manufacturing Test Flow of Digital Systems. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), Harwell campus in Oxfordshire, UK
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Schwachhofer, D.; Angione, F.; Becker, S.; Wagner, S.; Sauer, M.; Bernardi, P.; Polian, ... (2024)
  Optimizing System-Level Test Program Generation via Genetic Programming. In: 2024 IEEE European Test Symposium (ETS), The Hague (NL), 20-24 May 2024. ISBN: 979-8-3503-4932-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Guerriero, Augusto Maria; Insinga, Giorgio; Paganini, Giovanni; ... (2024)
  Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs. In: ELECTRONICS, vol. 13. ISSN 2079-9292
  Contributo su Rivista
• Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso (2024)
  Exploring trade-offs in multi-site wafer testing. In: 25th IEEE Latin American Test Symposium 2024, Maceio (BRA), 09-12 April 2024. ISBN: 979-8-3503-6555-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Kolahimahmoudi, Nima; Insinga, Giorgio (2023)
  A Novel Approach to Extract Embedded Memory Design Parameter Through Irradiation Test. In: Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC 2023), Dubai (United Arab Emirates), October 16 - 18, 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-2599-7
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Quer, Stefano; ... (2023)
  A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on large Automotive System-on-Chips. In: IEEE ACCESS, vol. 11, pp. 105655-105676. ISSN 2169-3536
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Di Gruttola Giardino, Nicola; ... (2023)
  On the integration and hardening of Software Test Libraries in Real-Time Operating Systems. In: Latin American Test Symposium, Veracruz (Mexico), 21-24 March 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-2597-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Appello, Davide; ... (2023)
  A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs. In: VLSI Test Symposium, San Diego (USA), 24-26 April 2023, pp. 1-7. ISBN: 979-8-3503-4630-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, ... (2023)
  Collecting diagnostic information through dichotomic search from Logic BIST of failing in-field automotive SoCs with delay faults. In: International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Tallinn (Estonia), 03-05 May 2023, pp. 21-26. ISBN: 979-8-3503-3277-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Iaria, Giusy; Appello, Davide; Garozzo, Giuseppe; ... (2023)
  About the correlation between logical identified faulty gates and their layout characteristics. In: IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, 03-05 July 2023, Crete, Greece. ISBN: 979-8-3503-4135-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Foscale, Tommaso; Insinga, Giorgio (2023)
  Low cost external serial interface watchdog for SoCs and FPGAs automatic characterization tests. In: IEEE Latin-American Test Symposium, Veracruz (Mexico), 21-24 March 2023. ISBN: 979-8-3503-2597-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, ... (2023)
  A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, pp. 1447-1459. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Niccoletti, ... (2022)
  An innovative Strategy to Quickly Grade Functional Test Programs. In: International Test Conference, Anaheim, CA (USA), 23-30 September 2022, pp. 355-364
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA ... (2022)
  Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Austin (USA), 19-21 October 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, ... (2022)
  A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip. In: Latin American Test Symposium, Montevideo (Uruguay), 05-08 September 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Appello, D.; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Pollaccia, G.; Quer, Stefano; Tancorre, ... (2022)
  Parallel Multithread Analysis of Extremely Large Simulation Traces. In: IEEE ACCESS, vol. 10, pp. 56440-56457. ISSN 2169-3536
  Contributo su Rivista
• Iaria, G.; Foscale, T.; Bernardi, P.; Presicce, L.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; ... (2022)
  A novel SEU injection setup for Automotive SoC. In: 2022 IEEE International Symposium on Industrial Electronics, Anchorage, AK (USA), 01-03 June 2022, pp. 623-626. ISBN: 978-1-6654-8240-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, ... (2022)
  An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip. In: IEEE European Test Symposium, Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, Paolo; Insinga, Giorgio; Paganini, Giovanni; Cantoro, Riccardo; Beer, Peter; ... (2022)
  Optimized diagnostic strategy for embedded memories of Automotive Systems-on-Chip. In: IEEE European Test Symposium, Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de ... (2022)
  Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip. In: IEEE European Test Symposium
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; ... (2022)
  Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino (Italy), 12-14 September 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
  Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Huard, V.; Jacquet, F.; Mhira, S.; Jure, L.; Montfort, O.; Louvat, M.; Zaia, L.; ... (2022)
  Runtime Test Solution for Adaptive Aging Compensation and Fail Operational Safety mode. In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Dallas, TX (USA), 27-31 March 2022. ISBN: 978-1-6654-7950-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Appello, D.; Chen, H. H.; Sauer, M.; Polian, I.; Bernardi, P.; Reorda, M. S. (2021)
  System-Level Test: State of the Art and Challenges. In: 27th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2021, 2021, pp. 1-7. ISBN: 978-1-6654-3370-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Abbati, L. Degli; Ullmann, R.; Paganini, G.; Coppetta, M.; Zaia, L.; Huard, V.; ... (2021)
  Industrial best practice: cases of study by automotive chip- makers. In: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 06-08 October 2021, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-1609-2
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Ruggeri, Walter; Bernardi, Paolo; Littardi, Stefano; Reorda, Matteo Sonza; Appello, ... (2021)
  Innovative methods for Burn-In related Stress Metrics Computation. In: 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 28-30 June 2021, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-3654-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Calabrese, A.; Bernardi, P.; Littardi, S.; Quer, S. (2020)
  Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures. In: International Test Conference 2020 (ITC2020), 3-5 November 2020, pp. 1-1
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Polian, I.; Anders, J.; Becker, S.; Bernardi, P.; Chakrabarty, K.; Elhamawy, N.; Sauer, ... (2020)
  Exploring the Mysteries of System-Level Test. In: 29th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2020, mys, 2020, pp. 1-6. ISBN: 978-1-7281-7467-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bosio, A.; Dilillo, L.; Girard, P.; Todri-Sanial, A.; Virazel, A.; Bernabovi, S.; ... (2014)
  An intra-cell defect grading tool. In: 17th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2014, pol, 2014, pp. 298-301. ISBN: 978-1-4799-4558-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Touati, A.; Bosio, A.; Dilillo, L.; Girard, P.; Todri-Sanial, A.; Virazel, A.; Bernardi, ... (2014)
  A comprehensive evaluation of functional programs for power-aware test. In: 23rd IEEE North Atlantic Test Workshop, NATW 2014, Binghamton, NY, usa, 2014, pp. 69-72. ISBN: 978-1-4799-5135-2
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)