• SoC Testing and Reliability

Settori ERC

SDG

• Best Paper award in DDECS 2016 conferito da DDECS organizing committee, Italia (2016)
• EDAA Outstanding Dissertation Award conferito da European Design and Automation Association - EDAA, Regno Unito (2006)
• Best Paper Award at the IEEE Conference on Design, Automation and Test in Europe conferito da DATE Program Committee, Italia (2006)

• Fellow (riconoscimento scientifico) - IEEE, Stati Uniti (2020-)
  IEEE Senior Member

• Microelectronics Reliability (2021-), Guest Editor di rivista o collana editoriale

• Test Technology Educational Program - TTEP, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• Test Technology Educational Program - TTEP, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)

• Collegio di Ingegneria Informatica, del Cinema e Meccatronica. Componente

Dottorato di ricerca

• Automated digital testing: present and future. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Collaboratore del corso

Corso di laurea magistrale

• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2017/18, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Computer architectures. A.A. 2017/18, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
• Computer architectures. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso

Corso di laurea di 1° livello

• Computer sciences. A.A. 2017/18, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
• Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2017/18, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Collaboratore del corso
• Informatica. A.A. 2017/18, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2018/19, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2019/20, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2020/21, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
• Informatica. A.A. 2021/22, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso

• CAD - Electronic CAD & Reliability Group

Progetti finanziati da contratti commerciali

• Generazione automatica e algoritmica di stimoli per lo stress (burn-in) di dispositivi SoC, (2022-2023) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Colored bitmap integration in Aurix2G including demonstration in production environment and porting support to Aurix3G, (2021-2022) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Redundancy repair algorithm definition for A3G ESF3 based on Array Fail Diagnostic and Suspect Learning, (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Power Drop Aware NVM Concurrent BIST Test Strategies enabling Minimal Pincount FE Insertion (U-RPC), (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• New techniques for supporting the System-Level Test (SLT) phase fors automotive decives, (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Portable Repair DfM Approach for A2G/A3G Flash Test, (2019-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation) and Versal (7nm generation), (2019-2020) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Zynq MPSoC Ultrascale +(16nm generation), (2018-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Portable Repari DfM Approach for A2G/A3G Flash Test, (2018-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Everest and Alto projects, (2017-2018) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Concept and Implementation Guidelines for Test Time and Diagnosis – Optimal Usage of Hier-archical Design for Testability Hardware regarding typical Production Test Repair corner case Statistics, (2017-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device, (2017-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• LPD (Low Powder Domain) subystem of the MPSoC device, (2016-2017) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• Assesment and Optimization of Hierarchical CPU-based Test for MultiCore eFlash applying DfT Hardware, (2016-2019) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale
• SW BIST implementation for Floating Point Unit of 40nm Automotive Microcontrollers, (2016-2016) - Responsabile Scientifico
  Consulenza commerciale
• Rinnovo della Convenzione Dipartimentale tra il Politecnico di Torino - Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN), il Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) e l’Université de Montpellier (UM), riguardante il laboratorio franco-italiano per la ricerca in sistemi integrati hardware-software “LIA LAFISI”, (-2020) - Responsabile Scientifico
  Convenzioni Dipartimentali
• Everest and Alto projects, (-2018) - Responsabile Scientifico
  Ricerca Commerciale

• Gabriele Filipponi. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2022-in corso)
• Tommaso Foscale. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2022-in corso)
• Francesco Angione. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 37, 2021-in corso)
• Giusy Iaria. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 37, 2021-in corso)
• Giorgio Insinga. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 37, 2021-in corso)

• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Niccoletti, ... (In stampa)
  An innovative Strategy to Quickly Grade Functional Test Programs. In: International Test Conference
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA ... (2022)
  Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Austin (USA), 19-21 October 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; ... (2022)
  Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino (Italy), 12-14 September 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
  Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, ... (2022)
  A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, pp. 1-14. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista