Dottorato in Fisica , 18o ciclo (2003-2005)
Dottorato concluso nel 2007
Tesi:
Applicazioni degli stati entangled di PDC alla comunicazione e metrologia quantistiche.
Tutori:
Fausto RossiRicerca
Dottorandi
- Alberto Paniate. Corso in Fisica (ciclo 37, 2021-in corso)
- Fabio Picariello. Corso in Metrologia (ciclo 36, 2020-in corso)
- Giuseppe Ortolano. Corso in Fisica (ciclo 35, 2019-2023)
Tesi: Applications in Quantum Hypothesis Testing
Pubblicazioni
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- Ortolano, Giuseppe; Napoli, Carmine; Harney, Cillian; Pirandola, Stefano; Leonetti, ... (2023)
Quantum-Enhanced Pattern Recognition. In: PHYSICAL REVIEW APPLIED, vol. 20. ISSN 2331-7019
Contributo su Rivista - Ortolano, Giuseppe; Paniate, Alberto; Boucher, Pauline; Napoli, Carmine; Soman, Sarika; ... (2023)
Quantum enhanced non-interferometric quantitative phase imaging. In: LIGHT, SCIENCE & APPLICATIONS, vol. 12. ISSN 2047-7538
Contributo su Rivista - Losero, Elena; RUO BERCHERA, Ivano; Meda, Alice; Avella, Alessio; Genovese, Marco (2018)
Unbiased estimation of an optical loss at the ultimate quantum limit with twin-beams. In: SCIENTIFIC REPORTS, vol. 8. ISSN 2045-2322
Contributo su Rivista - Meda, A; Losero, E; Samantaray, N; Fabio, Scafirimuto; Siva, Pradyumna; Avella, A; ... (2017)
Photon-number correlation for quantum enhanced imaging and sensing. In: JOURNAL OF OPTICS, vol. 19. ISSN 2040-8978
Contributo su Rivista - G., Brida; M., Chekhova; M., Genovese; M. L., Rastello; RUO BERCHERA, Ivano (2009)
Absolute calibration of Analog Detector using Stimulated Parametric Down Conversion. In: JOURNAL OF MODERN OPTICS. ISSN 0950-0340
Contributo su Rivista - G., Brida; A., Meda; M., Genovese; RUO BERCHERA, Ivano (2008)
Tailoring Parametric Down Conversion speckle structure toward quantum imaging of weak objects. In: Spie, San Diego,USA, 12-14 /08/2008
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - G., Brida; M., Chekhova; M., Genovese; RUO BERCHERA, Ivano (2008)
Analysis of the possibility of analog detectors calibration by exploiting Stimulated Parametric Down Conversion. In: OPTICS EXPRESS, vol. 16, pp. 12550-12558. ISSN 1094-4087
Contributo su Rivista