Call for Papers | IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design

Call for Papers del 32° IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IEEE IOLTS 2026).

Tra gli organizzatori figurano anche Riccardo Cantoro e Annachiara Ruospo, del Dipartimento di Automatica e Informatica-DAUIN..

Tematiche
ll simposio ricerca aspetti emergenti e concetti innovativi legati al testing e dependability di circuiti microelettronici e sistemi. Sono benvenuti articoli di ricerca sotto forma di full paper (6 pagine) relativi a prototipi di ricerca validati.
I possibili argomenti per questa Call includono, a titolo esemplificativo ma non esaustivo:

• Progettazione di sistemi affidabili
• Architetture informatiche affidabili
• Progettazione per l'affidabilità
• Approcci di progettazione per l'affidabilità a basso consumo
• Approcci di affidabilità cross-layer
• Sistemi tolleranti ai guasti e a prova di guasto
• Sicurezza funzionale
• Autotest e autoriparazione
• Progettazione autorigenerante
• Progettazione autoregolante
• Progettazione autoadattante
• Problemi di affidabilità nella progettazione a basso consumo
• Valutazione della robustezza
• Problemi di qualità, resa, affidabilità e durata nelle tecnologie nanometriche
• Variabilità, invecchiamento, EMI ed effetti delle radiazioni nelle tecnologie nanometriche
• Tecniche di test online per circuiti digitali, analogici e a segnale misto
• Circuiti di autocontrollo e teoria della codifica
• Monitoraggio online di corrente, temperatura, variazioni di processo e invecchiamento
• Problemi di densità di potenza e surriscaldamento nelle tecnologie nanometriche
• Diagnosi sul campo, manutenibilità e riconfigurazione
• Progettazione per la sicurezza
• Attacchi basati su guasti e contromisure
• Progettazione per la robustezza per applicazioni automobilistiche, ferroviarie, avioniche, spaziali, grandi applicazioni industriali, infrastrutture IT, cloud computing e comunicazioni via cavo, cellulari e satellitari
• CAD per la progettazione di circuiti resistenti

La Call for Papers è inserita all'interno del 32° IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IEEE IOLTS 2026), che si terrà dal 1 al 3 luglio 2026 a Polignano a Mare (BA), Italia.

Scadenza per l'invio contributi:

• 15 febbraio 2026: abstract;
• 22 febbraio 2026: full paper.

Per ulteriori informazioni visitare la pagina ufficiale della conferenza o contattare Riccardo Cantoro e Annachiara Ruospo.