Dottorato in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 20o ciclo (2005-2007)
Dottorato concluso nel 2008
Tesi:
Test and Diagnosis Techniques for Systems-on-Chip
Tutori:
Matteo Sonza ReordaRicerca
Dottorandi
- Reza Khoshzaban. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 39, 2023-in corso)
- Nunzio Mirabella. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 36, 2020-in corso)
Tesi: New techniques for quality and reliability enhancement in electronic systems
Cybersecurity Cybersecurity Cybersecurity
Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza ... (In stampa)
Targeting different defect-oriented fault models in IC testing: an experimental approach. In: 26th Euromicro Conference Series on Digital System Design (DSD), Durres (ALB), 6-8 September, 2023, pp. 1-6
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza ... (2022)
A comparative overview of ATPG flows targeting traditional and cell-aware fault models. In: 29th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems (ICECS), Glasgow, 24th - 26th October 2022, pp. 1-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; ... (2022)
Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino (Italy), 12-14 September 2022
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Mirabella, N.; Grosso, M.; Franchino, G.; Rinaudo, S.; Deretzis, I.; La Magna, A.; ... (2022)
An Experimental Evaluation of Resistive Defects and Different Testing Solutions in Low-Power Back-Biased SRAM Cells. In: ELECTRONICS, vol. 11. ISSN 2079-9292
Contributo su Rivista - Mirabella, Nunzio; Ricci, Maurizio; Calà, Ignazio; Lanza, Roberto; Grosso, Michelangelo (2021)
Testing single via related defectsin digital VLSI designs. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 120. ISSN 0026-2714
Contributo su Rivista