Workshop di microscopia digitale e confocale 3D

Durante il workshop "Failure Analysis e Metrologia Ottica di Superfici con Risoluzione Micrometrica e Nanometrica", organizzato dall'azienda Simitecno, sarà possibile analizzare i campioni forniti dai e dalle partecipanti, approfondendo le tecniche avanzate di microscopia digitale e confocale 3D.

Il workshop si terrà il 1° aprile 2025 dalle 10:00 alle 13:00 e dalle 14:00 alle 17:00 presso il Laboratorio AERMEC Fabbricato B1 - seminterrato - presso il DIMEAS.

Per ulteriori informazioni, contattare il professore del Dipartimento di Ingegneria Meccanica e Aerospaziale-DIMEAS del Politecnico Daniele Botto oppure Marco Brecciaroli oppure Ludovica Rossi.