
Ricercatore a tempo determinato Legge 240/10 art.24-B
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
- Membro Centro Interdipartimentale CARS@PoliTO - Center for Automotive Research and Sustainable Mobility
Profilo
Interessi di ricerca
Settore scientifico discliplinare
(Area 0009 - Ingegneria industriale e dell'informazione)
Competenze
Settori ERC
Didattica
Collegi dei Corsi di Studio
Insegnamenti
Dottorato di ricerca
- Advanced techniques for digital testing. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Titolare del corso
- Advanced techniques for digital testing. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Titolare del corso
- Advanced techniques for digital testing. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Titolare del corso
- Advanced techniques for digital testing. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Titolare del corso
Corso di laurea magistrale
- Testing and fault tolerance. A.A. 2017/18, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Challenge@PoliTo by Firms - CASE. A.A. 2020/21, AUTOMOTIVE ENGINEERING (INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO). Collaboratore del corso
- Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
Corso di laurea di 1° livello
- Computer sciences. A.A. 2017/18, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Sistemi operativi. A.A. 2017/18, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Sistemi operativi. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Sistemi operativi. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Informatica. A.A. 2021/22, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
- Informatica. A.A. 2022/23, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Titolare del corso
Ricerca
Gruppi di ricerca
Pubblicazioni
Coautori PoliTO
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza ... (In stampa)
A comparative overview of ATPG flows targeting traditional and cell-aware fault models. In: 29th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems (ICECS), Glasgow, 24th - 26th October 2022, pp. 1-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Deligiannis, Nikolaos; Cantoro, Riccardo; SONZA REORDA, Matteo (2023)
Automating the Generation of Programs Maximizing the Sustained Switching Activity in Microprocessor units via Evolutionary Techniques. In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS. ISSN 0141-9331
Contributo su Rivista - Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; ... (2022)
Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino (Italy), 12-14 September 2022
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Cantoro, R; Foti, D; Sartoni, S; Reorda, Ms; Anghel, L; Portolan, M (2020)
New Perspectives on Core In-field Path Delay Test. In: 2020 IEEE International Test Conference (ITC), pp. 1-5. ISBN: 978-1-7281-9113-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)