Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 38o cycle (2022-2025)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente esterno e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Profilo
Dottorato di ricerca
Tutori
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea magistrale
- HPC (High Performance Computing). A.A. 2023/24, QUANTUM ENGINEERING. Collaboratore del corso
Corso di laurea di 1° livello
- Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Informatica. A.A. 2023/24, INGEGNERIA AEROSPAZIALE. Collaboratore del corso
Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Gavarini, Gabriele; Ruospo, Annachiara; Ernesto, Sanchez (In stampa)
Evaluation and mitigation of faults affecting Swin Transformers. In: 29th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2023), Chania,Crete (Greece), July 3rd - 5th, 2023
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Ruospo, Annachiara; Gavarini, Gabriele; Porsia, Antonio; Sonza Reorda, Matteo; Sanchez, ... (2023)
Image Test Libraries for the on-line self-test of functional units in GPUs running CNNs. In: 28th IEEE European Test Symposium 2023, Venice (Italy), May 22 - 26, 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-3634-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Ruospo, Annachiara; Gavarini, Gabriele; De Sio, Corrado; Guerrero Balaguera, Juan David; ... (2023)
Assessing Convolutional Neural Networks Reliability through Statistical Fault Injections. In: IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE), Antwerp (Belgium), 17 - 19 April 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-9624-9
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Gavarini, Gabriele; Stucchi, Diego; Ruospo, Annachiara; Boracchi, Giacomo; Sanchez, ... (2022)
Open-Set Recognition: an Inexpensive Strategy to Increase DNN Reliability. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2022), Torino, September, 12th-14th 2022. ISBN: 978-1-6654-7355-2
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)