Borsista (BE)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente esterno e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea magistrale
- Testing and fault tolerance. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Testing and fault tolerance. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
Corso di laurea di 1° livello
- Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2021/22, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
Ricerca
Gruppi di ricerca
Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Bartolomucci, Michelangelo; Deligiannis, Nikolaos; Cantoro, Riccardo; Sonza Reorda, ... (In stampa)
Fault Grading Techniques for Evaluating Software-Based Self-Test with Respect to Small Delay Defects. In: International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Deligiannis, Nikolaos; Cantoro, Riccardo; SONZA REORDA, Matteo; Habib, S. E. D. (2024)
Evaluating the Reliability of Integer Multipliers With Respect to Permanent Faults. In: International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Kielce (POL), 03-05 April 2024, pp. 124-129. ISBN: 979-8-3503-5934-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Deligiannis, Nikolaos; Faller, Tobias; Iacopo, Guglielminetti; Cantoro, Riccardo; ... (2023)
Automatic Identification of Functionally Untestable Cell-Aware Faults in Microprocessors. In: Asian Test Symposium (ATS), Beijing (China), 14-17 October 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-0310-0
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Rodriguez, Esteban; Deligiannis, Nikolaos; Sini, Jacopo; Cantoro, Riccardo; SONZA ... (2023)
Functional Testing with STLs: A Step Towards Reliable RISC-V-based HPC Commodity Clusters. In: ISC High Performance 2023 International Workshops, Hamburg (DEU), May 21–25, 2023, pp. 444-457. ISSN 1611-3349. ISBN: 978-3-031-40842-7
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Deligiannis, Nikolaos; Faller, Tobias; Chenghan, Zhou; Cantoro, Riccardo; Becker, Bernd; ... (2023)
Automating the Generation of Functional Stress Inducing Stimuli for Burn-In Testing. In: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS), Venice (Italy), 22-26 May 2023, pp. 1-5. ISBN: 979-8-3503-3634-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)