Anagrafe della ricerca

Metodologie per la massimizzazione della stress-coverage mediante applicazione di test strutturali e funzionali in ambiente System Level Test/Burn-In e Utilizzo di test funzionali per ridurre l’over-killing dovuto alle condizioni di

Durata:
16/05/2023 - 15/05/2024
Responsabile scientifico:
Tipo di contratto:
Ricerca Commerciale

Strutture coinvolte

Partner

  • STMICROELECTRONICS S.R.L.