Soluzioni innovative nel campo dell’ingegneria dell’affidabilità
Esistono ambienti in cui garantire l’affidabilità dei sistemi elettronici non è solo importante, ma fondamentale: parliamo di settori e prodotti industriali come quelli aerospaziale, medico e dell’automotive, in cui un contesto stabile è necessario per preservare le vite di chi li frequenta e li utilizza. Contesti in cui un guasto può essere fatale e quindi è necessario concentrare gli sforzi sullo sviluppo delle applicazioni fault-tolerant, in grado cioè di continuare a funzionare correttamente anche in presenza di guasti e disturbi.
Proprio sul potenziamento di queste applicazioni si concentra lo studio realizzato da Corrado De Sio – attualmente ricercatore al Dipartimento di Automatica e Informatica-DAUIN del Politecnico – per la sua tesi di dottorato svolta sotto la guida del professor Luca Sterpone. Al centro dell’elaborato l’idea di innovare un campo, quello dell’ingegneria dell’affidabilità, che si rivela fondamentale a fronte di sistemi elettronici riconfigurabili – ovvero dispositivi in grado di adattarsi dinamicamente a diverse esigenze operative – oggi sempre più complessi. Nello specifico, la ricerca esplora metodologie avanzate per valutare la sensibilità dei sistemi ai guasti e per rilevare, isolare e correggere i possibili errori, permettendo ai sistemi elettronici di continuare a operare senza interruzioni. Come conseguenza dell’utilizzo di queste metodologie si stima un aumento significativo dei benefici in termini sia di performance che di durabilità dei dispositivi.
Per le sue caratteristiche innovative e per il forte impatto sugli studi di settore, la tesi di De Sio – dal titolo "Toward Fault-Tolerant Applications on Reconfigurable Systems-on-Chip" – è stata premiata dalla Test Technology Technical Community-TTTC, l'organizzazione professionale – costituita su base volontaria e promossa dall'IEEE Computer Society – che si dedica allo sviluppo professionale dei propri membri e all'avanzamento dello stato dell'arte nel campo del testing e della diagnosi di circuiti e sistemi elettronici. La ricerca è risultata infatti vincitrice della fase europea del "TTTC's E.J. McCluskey Doctoral Thesis Award", prestigioso riconoscimento assegnato nel corso della 29sima edizione dell'IEEE European Test Symposium che si è tenuta all’Aia, nei Paesi Bassi, dal 20 al 24 maggio scorsi.
La fase finale del premio avrà quindi luogo dal 3 al 8 novembre prossimi, durante l'International Test Conference, a San Diego: in questa occasione i vincitori delle quattro semifinali continentali competeranno per il primo posto come migliore tesi di dottorato capace di elaborare soluzioni d’avanguardia nell’ambito dell’affidabilità dei sistemi elettronici.