Settori ERC

• Best Paper award in DDECS 2016 conferito da DDECS organizing committee, Italia (2016)
• Best Paper Award at the IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) conferito da DDECS Program Committee, Italia (2013)
• Best Paper Award at the IEEE Conference on Design, Automation and Test in Europe conferito da DATE Program Committee, Italia (2006)
• Best Paper Award at the IEEE European Test Symposium conferito da IEEE European Test Symposium Program Committee, Italia (2005)
• Best Paper Award at the IEEE Asian Test Symposium conferito da ATS (IEEE Asian Test Symposium) program committee, Italia (2001)
• C.V. Ramamoorthy Best Paper Award conferito da IEEE International Conference on Tools with Artificial Intelligence, Stati Uniti (1997)

• Fellow (riconoscimento scientifico) - Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE), Stati Uniti (2016-)
  Fellow

• IEEE Workshop on RTL and High Level Test (WRTLT) 2020, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• 25th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) - 2017 (1/1/2017-25/10/2017), Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• IEEE Latin-American Test Symposium, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• IEEE Latin-American Test Workshop, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• IEEE International On-line Testing Symposium, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)
• IEEE International On-line Testing Symposium, Program chair (presidente/responsabile del comitato scientifico)

• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2020/2021 (37. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2019/2020 (36. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2018/2019 (35. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2017/2018 (34. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2016/2017 (33. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2015/2016 (32. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2014/2015 (31. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2013/2014 (30. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2012/2013 (29. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2011/2012 (28. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2010/2011 (27. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2009/2010 (26. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2008/2009 (25. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2007/2008 (24. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2006/2007 (23. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2005/2006 (22. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2004/2005 (21. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2003/2004 (20. ciclo)
  Politecnico di TORINO
• INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI, 2002/2003 (19. ciclo)
  Politecnico di TORINO

• Collegio di Ingegneria Informatica, del Cinema e Meccatronica. Componente

Dottorato di ricerca

• Object detection for automotive and aerospace applications: reliability challenges and solution (didattica di eccellenza). A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA E DEI SISTEMI. Titolare del corso

Corso di laurea magistrale

• Testing and fault tolerance. A.A. 2017/18, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Testing and fault tolerance. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Testing and fault tolerance. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Testing and fault tolerance. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Testing and fault tolerance. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Testing and fault tolerance. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Titolare del corso
• Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
• Computer architectures. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
• Computer architectures. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
• Computer architectures. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso

Corso di laurea di 1° livello

• Calcolatori elettronici. A.A. 2017/18, INGEGNERIA INFORMATICA. Titolare del corso
• Calcolatori elettronici. A.A. 2018/19, INGEGNERIA INFORMATICA. Titolare del corso
• Calcolatori elettronici. A.A. 2019/20, INGEGNERIA INFORMATICA. Titolare del corso
• Calcolatori elettronici. A.A. 2020/21, INGEGNERIA INFORMATICA. Titolare del corso
• Calcolatori elettronici. A.A. 2021/22, INGEGNERIA INFORMATICA. Titolare del corso
• Calcolatori elettronici. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA. Titolare del corso

• CAD - Electronic CAD & Reliability Group

• Robert Alexander Limas Sierra. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 38, 2022-in corso)
• Nikolaos Deligiannis. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 36, 2020-in corso)
  
  Electronic design automation
  Embedded and cyber-physical systems
  Formal methods and theory of security
  Artificial intelligence
  Hardware test & Validation
  Control Systems
• Juan David Guerrero Balaguera. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 36, 2020-in corso)
  
  Dependable and fault-tolerant systems and networks
  Machine Learning
  Artificial intelligence
  Hardware test & Validation
• Nunzio Mirabella. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 36, 2020-in corso)
  Argomento della ricerca: Sviluppo di strategie per migliorare la qualita' e l'affidabilita' di sistemi elettronici.
  
  Dependable and fault-tolerant systems and networks
  Modeling and simulation
  Artificial intelligence
  Hardware test & Validation
  Control Systems
• Sandro Sartoni. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 35, 2019-in corso)
  
  Electronic design automation
  Hardware test & Validation
• Davide Piumatti. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 33, 2017-2021)
  Tesi: Reliability in Power Electronics and Power Systems
  
  Modeling and simulation
  Hardware test & Validation
  Power and energy
• Josie Esteban Rodriguez Condia. Corso in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi (ciclo 33, 2017-2021)
  Tesi: New Techniques for On-line Testing and Fault Mitigation in GPUs
  
  Electronic design automation
  Dependable and fault-tolerant systems and networks
  Hardware test & Validation

• Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza ... (In stampa)
  A comparative overview of ATPG flows targeting traditional and cell-aware fault models. In: 29th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems (ICECS), Glasgow, 24th - 26th October 2022, pp. 1-4
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Ruospo, Annachiara; Gavarini, Gabriele; De Sio, Corrado; Guerrero Balaguera, Juan David; ... (In stampa)
  Assessing Convolutional Neural Networks Reliability through Statistical Fault Injections. In: IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE), Antwerp (Belgium), 17 - 19 April 2023
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Deligiannis, Nikolaos; Cantoro, Riccardo; SONZA REORDA, Matteo (2023)
  Automating the Generation of Programs Maximizing the Sustained Switching Activity in Microprocessor units via Evolutionary Techniques. In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS. ISSN 0141-9331
  Contributo su Rivista
• Rodriguez Condia, Josie E.; Guerrero-Balaguera, Juan-David; Dos Santos, Fernando F.; ... (2022)
  A Multi-level Approach to Evaluate the Impact of GPU Permanent Faults on CNN's Reliability. In: 2022 IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA (USA), 23-30 September 2022, pp. 278-287. ISBN: 978-1-6654-6270-9
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Filipponi, G.; Iaria, G.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Garozzo, G.; Tancorre, V. (2022)
  In-field Data Collection System through Logic BIST for large Automotive Systems-on-Chip. In: 2022 IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim (USA), 23-30 September 2022, pp. 646-649
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, Josie E.; Reorda, Matteo Sonza (2022)
  Neural Network's Reliability to Permanent Faults: Analyzing the Impact of Performance Optimizations in GPUs. In: 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), Glasgow (UK), 24-26 October 2022, pp. 1-4. ISBN: 978-1-6654-8823-5
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Fernandes Dos Santos, Fernando; Kritikakou, Angeliki; Rodriguez Condia, Josie E.; ... (2022)
  Characterizing a Neutron-Induced Fault Model for Deep Neural Networks. In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, pp. 1-1. ISSN 0018-9499
  Contributo su Rivista
• Juan-David, Guerrero-Balaguera; Galasso, Luigi; LIMAS SIERRA, ROBERT ALEXANDER; Ernesto, ... (2022)
  Evaluating the impact of Permanent Faults in a {GPU} running a Deep Neural Network. In: 2022 {IEEE} International Test Conference in Asia ({ITC}-Asia), Taipei (Taiwan), 24-26 August 2022, pp. 96-101. ISBN: 978-1-6654-5523-7
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Guerrero-Balaguera, Juan-David; Sierra, Robert Limas; Reorda, Matteo Sonza (2022)
  Effective fault simulation of GPU’s permanent faults for reliability estimation of CNNs. In: 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-7355-2
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; ... (2022)
  Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing. In: The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Torino (Italy), 12-14 September 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
  Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Deligiannis, Nikolaos; Faller, Tobias; RODRIGUEZ CONDIA, JOSIE ESTEBAN; Cantoro, ... (2022)
  Using Formal Methods to Support the Development of STLs for GPUs. In: Asian Test Symposium (ATS), Taiwan
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, ... (2022)
  A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, pp. 1-14. ISSN 0018-9340
  Contributo su Rivista
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA ... (2022)
  Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Austin (USA), 19-21 October 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, ... (2022)
  A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip. In: Latin American Test Symposium, Montevideo (Uruguay), 05-08 September 2022
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Guerrero-Balaguera, Juan-David; Galasso, Luigi; Sierra, Robert Limas; Reorda, Matteo ... (2022)
  Reliability Assessment of Neural Networks in GPUs: A Framework For Permanent Faults Injections. In: 2022 IEEE 31st International Symposium on Industrial Electronics (ISIE), pp. 959-962. ISBN: 978-1-6654-8240-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• da Silva, Felipe Augusto; Cantoro, Riccardo; Hamdioui, Said; Sartoni, Sandro; Sauer, ... (2022)
  A Systematic Method to Generate Effective STLs for the In-Field Test of CAN Bus Controllers. In: ELECTRONICS, vol. 11. ISSN 2079-9292
  Contributo su Rivista
• Rodriguez Condia, Josie E.; Augusto Da Silva, Felipe; Cagri Bagbaba, Ahmet; Juan-David, ... (2022)
  Using STLs for Effective In-field Test of GPUs. In: IEEE DESIGN & TEST, pp. 1-1. ISSN 2168-2356
  Contributo su Rivista
• Deligiannis, Nikolaos; Cantoro, Riccardo; SONZA REORDA, Matteo; Traiola, Marcello; ... (2022)
  Improving the Fault Resilience of Neural Network Applications Through Security Mechanisms. In: Dependable Systems and Networks, 27-30 June 2022, pp. 23-24
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Cantoro, Riccardo; Garau, Francesco; Girard, Patrick; Kolahimahmoudi, Nima; Sartoni, ... (2022)
  Effective techniques for automatically improving the transition delay fault coverage of Self-Test Libraries. In: 2022 IEEE European Test Symposium, Barcelona (SP), 23-27 Maggio 2022, pp. 1-2. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, Josie Esteban; Sonza Reorda, Matteo (2022)
  A New Method to Generate Software Test Libraries for In-Field GPU Testing Resorting to High-Level Languages. In: 40th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2022, San Diego (USA), 25-27 April 2022, pp. 1-7. ISBN: 978-1-6654-1060-1
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, J. E.; Sonza Reorda, M. (2022)
  A Compaction Method for STLs for GPU in-field test. In: 2022 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2022, Antwerp (BE), 14-23 March 2022, pp. 454-459. ISBN: 978-3-9819263-6-1
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Cantoro, Riccardo; Garau, Francesco; Masante, Riccardo; Sartoni, Sandro; Singh, ... (2022)
  Exploiting post-silicon debug hardware to improve the fault coverage of Software Test Libraries. In: 2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), San Diego (USA), 25-27 Aprile 2022, pp. 1-7. ISBN: 978-1-6654-1060-1
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Iaria, G.; Foscale, T.; Bernardi, P.; Presicce, L.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; ... (2022)
  A novel SEU injection setup for Automotive SoC. In: 2022 IEEE International Symposium on Industrial Electronics, Anchorage, AK (USA), 01-03 June 2022, pp. 623-626. ISBN: 978-1-6654-8240-0
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, ... (2022)
  An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip. In: IEEE European Test Symposium, Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-6. ISBN: 978-1-6654-6706-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Rodriguez Condia, Josie E.; Rech, Paolo; Fernandes dos Santos, Fernando; Carro, Luigi; ... (2022)
  An Effective Method to Identify Microarchitectural Vulnerabilities in GPUs. In: IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, vol. 22, pp. 129-141. ISSN 1530-4388
  Contributo su Rivista
• Goncalves, Marcio M.; Rodriguez Condia, Josie Esteban; Sonza Reorda, Matteo; Sterpone, ... (2022)
  Evaluating low-level software-based hardening techniques for configurable GPU architectures. In: THE JOURNAL OF SUPERCOMPUTING, vol. 78, pp. 8081-8105. ISSN 0920-8542
  Contributo su Rivista
• Fernandes dos Santos, Fernando; Rodriguez Condia, Josie Esteban.; Carro, Luigi; Sonza ... (2021)
  Revealing GPUs Vulnerabilities by Combining Register-Transfer and Software-Level Fault Injection. In: 51st Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks, DSN 2021, twn, 2021, pp. 292-304. ISBN: 978-1-6654-3572-7
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
• Rodriguez Condia, Josie E.; Sonza Reorda, M. (2021)
  Modular Functional Testing: Targeting the Small Embedded Memories in GPUs. In: VLSI-SoC: Design Trends. VLSI-SoC 2020 / Calimera, A., Gaillardon, PE., Korgaonkar, K., Kvatinsky, S., Reis, R. (eds), S.L., Springer, pp. 205-233. ISBN: 978-3-030-81640-7
  Contributo in Volume
• Cantoro, R; Foti, D; Sartoni, S; Reorda, Ms; Anghel, L; Portolan, M (2020)
  New Perspectives on Core In-field Path Delay Test. In: 2020 IEEE International Test Conference (ITC), pp. 1-5. ISBN: 978-1-7281-9113-3
  Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)