
Dottorando
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Personale esterno - docente esterno e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea di 1° livello
- Computer sciences. A.A. 2021/22, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
Pubblicazioni
Coautori PoliTO
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Ruospo, Annachiara; Gavarini, Gabriele; De Sio, Corrado; Guerrero Balaguera, Juan David; ... (In stampa)
Assessing Convolutional Neural Networks Reliability through Statistical Fault Injections. In: IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE), Antwerp (Belgium), 17 - 19 April 2023
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, Josie E.; Reorda, Matteo Sonza (2022)
Neural Network's Reliability to Permanent Faults: Analyzing the Impact of Performance Optimizations in GPUs. In: 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), Glasgow (UK), 24-26 October 2022, pp. 1-4. ISBN: 978-1-6654-8823-5
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Fernandes Dos Santos, Fernando; Kritikakou, Angeliki; Rodriguez Condia, Josie E.; ... (2022)
Characterizing a Neutron-Induced Fault Model for Deep Neural Networks. In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, pp. 1-1. ISSN 0018-9499
Contributo su Rivista - Juan-David, Guerrero-Balaguera; Galasso, Luigi; LIMAS SIERRA, ROBERT ALEXANDER; Ernesto, ... (2022)
Evaluating the impact of Permanent Faults in a {GPU} running a Deep Neural Network. In: 2022 {IEEE} International Test Conference in Asia ({ITC}-Asia), Taipei (Taiwan), 24-26 August 2022, pp. 96-101. ISBN: 978-1-6654-5523-7
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Rodriguez Condia, Josie E.; Guerrero-Balaguera, Juan-David; Dos Santos, Fernando F.; ... (2022)
A Multi-level Approach to Evaluate the Impact of GPU Permanent Faults on CNN's Reliability. In: 2022 IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA (USA), 23-30 September 2022, pp. 278-287. ISBN: 978-1-6654-6270-9
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)