Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 37o ciclo (2021-2024)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente esterno e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Profilo
Dottorato di ricerca
Tutori
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea magistrale
- Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Architetture dei sistemi di elaborazione. A.A. 2022/23, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
Pubblicazioni
Coautori PoliTO
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Angione, Francesco; Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Quer, Stefano; ... (2023)
A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on large Automotive System-on-Chips. In: IEEE ACCESS, vol. 11, pp. 105655-105676. ISSN 2169-3536
Contributo su Rivista - Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Di Gruttola Giardino, Nicola; ... (2023)
On the integration and hardening of Software Test Libraries in Real-Time Operating Systems. In: Latin American Test Symposium, Veracruz (Mexico), 21-24 March 2023, pp. 1-6. ISBN: 979-8-3503-2597-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Appello, Davide; ... (2023)
A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs. In: VLSI Test Symposium, San Diego (USA), 24-26 April 2023, pp. 1-7. ISBN: 979-8-3503-4630-5
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, ... (2023)
A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, pp. 1447-1459. ISSN 0018-9340
Contributo su Rivista - Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)