Assegnista di Ricerca
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente esterno e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea di 1° livello
- Algoritmi e strutture dati. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2025/26, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2024/25, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2023/24, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Computer sciences. A.A. 2022/23, INGEGNERIA DELL'AUTOVEICOLO (AUTOMOTIVE ENGINEERING). Collaboratore del corso
Ricerca
Gruppi di ricerca
Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Ciullo, Alessandro; Eggersglüß, Stephan; Tille, Daniel; Glowatz, Andreas; Iaria, Giusy; ... (In stampa)
Exploiting weak detections for optimizing pattern generation in Defect-Oriented Cell-Aware ATPG. In: IEEE International Test Conference ASIA 2025, Tokyo (JPN), December 16–19, 2025
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo (2025)
Automatic Generation of System-Level Test for Un-Core Logic of Large Automotive SoC. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 74, pp. 3195-3209. ISSN 0018-9340
Contributo su Rivista - Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo (2025)
Enhancing Logic Diagnosis of field returns through Logic BIST in Automotive SoCs. In: 2025 IEEE Latin American Test Symposium, San Andres Islas (COL), 11-14 March 2025. ISBN: 978-1-6654-7763-5
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Iaria, Giusy (2025)
Towards Ultra-Reliable Automotive Systems-on-Chip. relatore: BERNARDI, PAOLO; , 37. XXXVII Ciclo, P.: 125
Doctoral Thesis - Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo; Bertani, Claudia; Cardone, Lorenzo; Garozzo, Giuseppe; ... (2025)
A Comprehensive Scan Test Cost Model to Optimize the Production of very large SoCs. In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, vol. 74, pp. 1278-1292. ISSN 0018-9340
Contributo su Rivista