Tommaso Foscale

Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 38^o ciclo (2022-2025)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)

Docente esterno e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)

tommaso.foscale@polito.it

Profilo

Dottorato di ricerca

Titolo della tesi

Testing Techniques for Automotive Systems on Chip

Argomento di ricerca

Testing Techniques for Automotive Systems on Chip

Tutori

Presentazione della ricerca

Poster

Interessi di ricerca

Computer architectures and Computer aided design

Biografia

Tommaso Foscale obtained a degree in Computer Engineering with a specialisation in Computer Networks and Cloud Computing from Politecnico di Torino. He graduated with the master's thesis, entitled "Sviluppo e valutazione di un tester Burn-In basato su architettura programmabile", in 2021, having obtained a grade of 110 cum laude. He is currently a third-year PhD student in Computer and Control Engineering at Politecnico di Torino, affiliated with the Electronic CAD & Reliability group, where he is conducting research in the field of embedded electronics testing. His primary area of investigation is the development of testing techniques for automotive system-on-chip (SoC) devices.

Didattica

Insegnamenti

Corso di laurea di 1° livello

Operating systems. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
Sistemi operativi. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
Operating systems. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
Sistemi operativi. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
Operating systems. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
Sistemi operativi. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso

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Pubblicazioni

Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris

Foscale, Tommaso; Bernardi, Paolo (2025)
A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing. In: ELECTRONICS, vol. 14. ISSN 2079-9292
Contributo su Rivista
Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso (2024)
Exploring trade-offs in multi-site wafer testing. In: 25th IEEE Latin American Test Symposium 2024, Maceio (BRA), 09-12 April 2024. ISBN: 979-8-3503-6555-9
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Di Gruttola Giardino, Nicola; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Foscale, Tommaso; ... (2024)
A Flexible FPGA-based Test Equipment for Enabling Out-of-Production Manufacturing Test Flow of Digital Systems. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), Didcot (UK), 08-10 October 2024. ISBN: 979-8-3503-6688-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Foscale, Tommaso; Insinga, Giorgio (2023)
Low cost external serial interface watchdog for SoCs and FPGAs automatic characterization tests. In: IEEE Latin-American Test Symposium, Veracruz (Mexico), 21-24 March 2023. ISBN: 979-8-3503-2597-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)