Assegnista di Ricerca
Dipartimento Scienza Applicata e Tecnologia (DISAT)
Profilo
Interessi di ricerca
Biografia
Mi occupo di simulazioni di dinamica molecolare, soprattutto con modelli coarse-grained, nell'ambito del self-assembly supramolecolare. Inoltre, sviluppo strumenti di analisi dati specializzati nell'analisi delle simulazioni.
Linee di ricerca
- Simulazioni di dinamica molecolare per self-assembly supramolecolare.
- Sviluppo di strumenti di analisi dati.
Competenze
Settori ERC
Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Martino, Simone; Doria, Domiziano; Lionello, Chiara; Becchi, Matteo; Pavan, Giovanni M (2025)
A data driven approach to classify descriptors based on their efficiency in translating noisy trajectories into physically-relevant information. In: MACHINE LEARNING: SCIENCE AND TECHNOLOGY, vol. 6. ISSN 2632-2153
Contributo su Rivista - Doria, Domiziano; Martino, Simone; Becchi, Matteo; Pavan, Giovanni M. (2025)
Data-driven assessment of optimal spatiotemporal resolutions for information extraction in noisy time series data. In: JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS ONLINE, vol. 162. ISSN 1089-7690
Contributo su Rivista - Lionello, Chiara; Becchi, Matteo; Martino, Simone; Pavan, Giovanni M. (2025)
Relevant, Hidden, and Frustrated Information in High-Dimensional Analyses of Complex Dynamical Systems with Internal Noise. In: JOURNAL OF CHEMICAL THEORY AND COMPUTATION, vol. 21, pp. 6683-6697. ISSN 1549-9618
Contributo su Rivista - Becchi, Matteo; Fantolino, Federico; Pavan, Giovanni M. (2024)
Layer-by-layer unsupervised clustering of statistically relevant fluctuations in noisy time-series data of complex dynamical systems. In: PROCEEDINGS OF THE NATIONAL ACADEMY OF SCIENCES OF THE UNITED STATES OF AMERICA, vol. 121. ISSN 0027-8424
Contributo su Rivista - Becchi, Matteo; Capelli, Riccardo; Perego, Claudio; Pavan, Giovanni M.; Micheletti, ... (2022)
Density-tunable pathway complexity in a minimalistic self-assembly model. In: SOFT MATTER, vol. 18, pp. 8106-8116. ISSN 1744-683X
Contributo su Rivista