Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 38o ciclo (2022-2025)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente a contratto e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Profilo
Dottorato di ricerca
Titolo della tesi
Testing Techniques for Automotive Systems on Chip
Argomento di ricerca
Testing Techniques for Automotive Systems on Chip
Tutori
Presentazione della ricerca
Keywords
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea di 1° livello
- Operating systems. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Sistemi operativi. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Operating systems. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Sistemi operativi. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Operating systems. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
- Sistemi operativi. A.A. 2023/24, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
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Pubblicazioni
Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Foscale, Tommaso; Bernardi, Paolo (2025)
A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing. In: ELECTRONICS, vol. 14. ISSN 2079-9292
Contributo su Rivista - Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso (2024)
Exploring trade-offs in multi-site wafer testing. In: 25th IEEE Latin American Test Symposium 2024, Maceio (BRA), 09-12 April 2024. ISBN: 979-8-3503-6555-9
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Di Gruttola Giardino, Nicola; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Foscale, Tommaso; ... (2024)
A Flexible FPGA-based Test Equipment for Enabling Out-of-Production Manufacturing Test Flow of Digital Systems. In: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), Didcot (UK), 08-10 October 2024. ISBN: 979-8-3503-6688-4
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Foscale, Tommaso; Insinga, Giorgio (2023)
Low cost external serial interface watchdog for SoCs and FPGAs automatic characterization tests. In: IEEE Latin-American Test Symposium, Veracruz (Mexico), 21-24 March 2023. ISBN: 979-8-3503-2597-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; ... (2022)
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS), Barcelona (Spain), 23-27 May 2022, pp. 1-10. ISBN: 978-1-6654-6706-3
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)