Dottorando in Ingegneria Informatica E Dei Sistemi , 39o ciclo (2023-2026)
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Docente a contratto e/o collaboratore didattico
Dipartimento di Automatica e Informatica (DAUIN)
Profilo
Dottorato di ricerca
Argomento di ricerca
Reliability evaluation and hardening of AI accelerators
Tutori
Keywords
Didattica
Insegnamenti
Corso di laurea di 1° livello
- Tecniche di programmazione. A.A. 2025/26, INGEGNERIA INFORMATICA. Collaboratore del corso
- Programming techniques. A.A. 2024/25, INGEGNERIA INFORMATICA (COMPUTER ENGINEERING). Collaboratore del corso
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Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris
- Bosio, Alberto; Sanchez, Ernesto; Sinha, Arani; Pappalardo, Salvatore; Ruospo, ... (2026)
Trustworthy AI in the Cloud. In: Machine Learning Systems: The Role of Hardware Design for Dependable Computing / S.N., S.L., Springer Nature, pp. 287-322. ISBN: 9783032179470
Contributo in Volume - Turco, Vittorio; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Sonza Reorda, Matteo (2026)
Evaluating tensor-related metrics for early fault detection in CNNs. In: APPLIED SOFT COMPUTING, vol. 203, Part A. ISSN 1568-4946
Contributo su Rivista - Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Giardino, Nicola Di Gruttola; Filipponi, Gabriele; ... (2026)
Advances in Testing and Reliability Benchmarks. In: 31st IEEE European Test Symposium, ETS 2026, Chania (GRC), 25-29 May 2026, pp. 1-10. ISBN: 979-8-3195-1763-0
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) - Fezza, Lorenzo; Porsia, Antonio; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Sonza Reorda, ... (2026)
Exploiting spatial and temporal consistency for fault detection in semantic segmentation NN for indoor and outdoor exploration. In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS, vol. 124. ISSN 0141-9331
Contributo su Rivista - Turco, Vittorio; Fezza, Lorenzo; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Sonza Reorda, ... (2025)
APSS Metrics for Fault Detection: Area, Position, Symmetry, and Shape in Image Segmentation. In: DFT 2025 38th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Barcellona (ESP), 21-23 October 2025. ISBN: 979-8-3315-1489-1
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)