Juan Ignacio Medved

Dottorando in Ingegneria Elettrica, Elettronica E Delle Comunicazioni , 39^o ciclo (2023-2026)
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni (DET)

juan.medved@polito.it

Profilo

Dottorato di ricerca

Argomento di ricerca

Quantum electrical impedance metrology and applications

Tutori

Massimo Ortolano
Martina Marzano
Alessandro Cultrera

Keywords

Electronic devices: modeling and characterization

Competenze

Settori ERC

PE3_6 - Macroscopic quantum phenomena, e.g. superconductivity, superfluidity, quantum Hall effect

PE3_11 - Mesoscopic quantum physics and solid-state quantum technologies

PE2_17 - Metrology and measurement

SDG

Goal 4: Quality education

Goal 16: Peace, justice and strong institutions

Goal 17: Partnerships for the goals

Premi e riconoscimenti

Best Poster Award at the International School of Physics "Enrico Fermi" - Course 217 (2025)

Pubblicazioni

Pubblicazioni più recenti Vedi tutte le pubblicazioni su Porto@Iris

Overney, Frédéric; Medved, Juan; Marzano, Martina (2026)
Low frequency bridge for magneto-transport measurements of quantum anomalous Hall effect. In: 2026 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2026), Madrid (Spain), 06/09/2026-11/09/2026. ISBN: 979-8-3315-4683-0
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Marzano, Martina; Medved, Juan; Cultrera, Alessandro; D'Elia, Vincenzo; Enrico, ... (2026)
Measurements of excess noise of quantum Hall effect devices. In: 2026 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2026), Madrid (Spain), 06/09/2026-11/09/2026. ISBN: 979-8-3315-4683-0
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Medved, Juan; Ortolano, Massimo; Overney, Frédéric; Bauer, Stephan (2026)
Characterization of Current Equalizers for Coaxial Impedance Bridges. In: 2026 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2026), Madrid, 06/09/2026-11/09/2026. ISBN: 979-8-3315-4683-0
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Medved, Juan; Overney, Frédéric; Ortolano, Massimo (2026)
Characterization of the Frequency Dependence of Impedance standards with a Dual Josephson Impedance Bridge. In: 2026 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2026), Madrid, 06/09/2026-11/09/2026. ISBN: 979-8-3315-4683-0
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)
Cultrera, A.; Medved, J.; Zucca, M.; Arduino, A.; Callegaro, L. (2025)
CARATTERIZZAZIONE DI SUPERCONDENSATORI: ELETTRODI E DISPOSITIVI. In: IX FORUM NAZIONALE DELLE MISURE, Napoli (Ita), 10-12 Settembre 2025, pp. 303-304
Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)